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Rasterelektronenmikroskop FEI Phenom G1
Angebot Nr. INNO12565
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Beschreibung:Vergrößerungsbereich: 24 / 120-24000x, Digitalzoom: 12x, Probenduchmesser: 25mm max., Probenhöhe: 30mm max., Bildformate: JPEG/TIFF/BMP, Bildauflösung: 456x456 - 2048x2048p.
Fabrikat:FEI
Typ:Phenom G1
Leistung:kein Eintrag
Baujahr:2007
Zustand:
Preis:Auf Anfrage
Bemerkungen:Wenn Sie den Preis dieses Angebotes erfahren möchten, oder technische Fragen haben, klicken Sie bitte oben rechts auf "Angebot erfragen". Dort können Sie uns auch technische und kaufmännische Fragen übermitteln und Sie erhalten zeitnah unsere Antwort.
Bilder:Rasterelektronenmikroskop FEI Phenom G1 Bild-1






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